2012年5月15日晚19:30，参加2012年4月在南非德班举行的第18届世界会议(WCNDT)的成都主导科技公司彭朝勇老师和赵波工程 师在光电所面向全体光电所研究生进行此次国际会议有关无损害检验测试新技术的专题报告。报告分两部分进行，首先由彭朝勇老师作有关无损害检验测试新技术及其进展的报 告，其后由赵波作有关此次国际会议会场参展情况的报告。
彭朝勇老师就电涡流检验测试技术、超声柔性探头及不伤害原有设备的检测技术、轴式相控阵探头、其他无损害地进行检测相关技术等五个方面从原理、技术发展及应用前沿等方面展开介绍。 介绍的同时，结合会议现场的实际应用情况，以图片的形式展示了各不伤害原有设备的检测技术的应用技术及其应用现状。在介绍其他无损检测相关技术部分，主要介绍了 TOFD焊缝检测技术、超声扫查器、磁粉探伤技术、磁检测技术、EMAT(电磁超声)检测技术等相关技术。
其后，赵波在彭朝勇老师介绍的基础上，就本次国际会议参展现场的详细情况作介绍。首先介绍了有关WCNDT的情况，世界无损检测会议(WCNDT)每四年 举行一次，举办地在美洲、欧洲、非洲、亚太四个地区轮流举行，下一届即第19届WCNDT将在欧洲德国慕尼黑举办。本次会议有120家参展商分属质量与认 证、服务、政府组织、教育培训等类别。主导科技公司在此次会议上进行了成果展览。并介绍了从大会获取的目前关于相控阵超声技术(PA)的前沿及动态。PA 技术应用广泛，目前的研究热点为信号处理和成像算法的研究，PA技术向着高级开发设备和便携检测设备方面发展。最后赵波对此次参会的总体情况作了总结。
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